SN74ABT8952DW 数据表
规格 SN74ABT8952DW
零件号 :
SN74ABT8952DW
制造商 :
Texas Instruments
描述 :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
系列 :
74ABT
零件状态 :
Obsolete
逻辑类型 :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
电源电压 :
4.5V ~ 5.5V
比特数 :
8
工作温度 :
-40°C ~ 85°C
安装类型 :
Surface Mount
封装/箱体 :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备封装 :
28-SOIC
重量 :
-
条件 :
新的和原始的
质量保证 :
365天保修
库存资源 :
特许经销商/制造商直销
出生国家 :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
制造商零件编号
内部零件号
简要描述
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
RoHS状态
无铅/符合RoHS
交货时间
1-2天
可用数量
23863 件
参考价
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| 零件号 | 品牌 | 描述 | 购买 |
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Microchip Technology |
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Lattice Semiconductor Corporation |
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Intel |
IC CPLD 128MC 10NS 144TQFP |
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Xilinx Inc. |
IC CPLD 512MC 7.1NS 324BGA |
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|
Xilinx Inc. |
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