SN74ABTH18646APM - IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
制造商零件编号
内部零件号
简要描述
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
RoHS状态
无铅/符合RoHS
交货时间
1-2天
可用数量
40565 Pieces
参考价
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规格 SN74ABTH18646APM
质量保证 : 365天保修
库存资源 : 特许经销商/制造商直销
出生国家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
零件号 : SN74ABTH18646APM
制造商 : Texas Instruments
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
系列 : 74ABTH
零件状态 : Active
逻辑类型 : Scan Test Device With Transceivers And Registers
电源电压 : 4.5V ~ 5.5V
比特数 : 18
工作温度 : -40°C ~ 85°C
安装类型 : Surface Mount
封装/箱体 : 64-LQFP
供应商设备封装 : 64-LQFP (10x10)
重量 : -
条件 : 新的和原始的
文件 SN74ABTH18646APM
数据表 : SN74ABTH18646APM.pdf
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