SN74BCT8244ADWE4 - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

制造商零件编号

内部零件号

制造商

简要描述

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

RoHS状态

无铅/符合RoHS

交货时间

1-2天

可用数量

50350 Pieces

参考价

~~USD 6.19488~~

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付款方式:: Paypal (Credit Card); Bank Transfer (Wire Transfer); Western Union; MoneyGram

质量保证 : 365天保修

库存资源 : 特许经销商/制造商直销

出生国家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件号 : SN74BCT8244ADWE4

制造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

系列 : 74BCT

零件状态 : Active

逻辑类型 : Scan Test Device with Buffers

电源电压 : 4.5V ~ 5.5V

比特数 : 8

工作温度 : 0°C ~ 70°C

安装类型 : Surface Mount

封装/箱体 : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

供应商设备封装 : 24-SOIC

重量 : -

条件 : 新的和原始的