SN74BCT8244ANT - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

制造商零件编号

内部零件号

制造商

简要描述

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

RoHS状态

无铅/符合RoHS

交货时间

1-2天

可用数量

38778 Pieces

参考价

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质量保证 : 365天保修

库存资源 : 特许经销商/制造商直销

出生国家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件号 : SN74BCT8244ANT

制造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

系列 : 74BCT

零件状态 : Obsolete

逻辑类型 : Scan Test Device with Buffers

电源电压 : 4.5V ~ 5.5V

比特数 : 8

工作温度 : 0°C ~ 70°C

安装类型 : Through Hole

封装/箱体 : 24-DIP (0.300", 7.62mm)

供应商设备封装 : 24-PDIP

重量 : -

条件 : 新的和原始的