SN74LVTH182502APM - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

制造商零件编号

内部零件号

制造商

简要描述

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

RoHS状态

无铅/符合RoHS

交货时间

1-2天

可用数量

57816 Pieces

参考价

~~USD 6.474~~

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质量保证 : 365天保修

库存资源 : 特许经销商/制造商直销

出生国家 : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

零件号 : SN74LVTH182502APM

制造商 : Texas Instruments

描述 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

系列 : 74LVTH

零件状态 : Active

逻辑类型 : ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

电源电压 : 2.7V ~ 3.6V

比特数 : 18

工作温度 : -40°C ~ 85°C

安装类型 : Surface Mount

封装/箱体 : 64-LQFP

供应商设备封装 : 64-LQFP (10x10)

重量 : -

条件 : 新的和原始的